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QuaNix 4200覆層測厚儀

QuaNix 4200覆層測厚儀

簡要描述:

QuaNix 4200覆層測厚儀
1.只需調零、無需校準
2.Fe/NFe兩用探頭
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀一體化設計
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀自動開關機

更新時間:2024-11-17

QuaNix 4200覆層測厚儀

QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀
1.只需調零、無需校準 
2.Fe/NFe兩用探頭 
3.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀一體化設計 
4.QuaNix 4200/4500 涂鍍層測厚儀自動開關機 

產品特點及用途 :

QNix4200P為磁性測厚儀,可以用來測量鋼、鐵等磁性基體上的非磁性涂層、鍍層。

只需調零、無需校準

Fe探頭;分體式設計

自動開關機

單探頭量程達3000μm 

 

主要技術指標:    

產品名稱:QUANIX4200P 涂層測厚儀

基    體:Fe

顯    示:LCD數字顯示

測量范圍:0-3000μm

測量精度:0-50μm:±1μm,50-1000μm:±1.5;1000-2000μm:±2,2000-3000μm±3

顯示精度:0-999μm:0.1μm,1000μm以上,0.01mm

工作溫度:-10-+60

溫度補償:0-50

數據傳輸:無

統計功能:平均值、大值、小值、標準偏差

小基體:10mm×10mm

小曲率:凸半徑:5mm,凹半徑:25mm

薄基體:Fe:0.2mm,NFe:0.05mm

電    源:兩節5號電池

重    量:110g

尺    寸:110×60×27mm

QuaNix 4200覆層測厚儀

 


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